《线纹测量装置校准规范》征求意见稿发布
【核心介绍】9月8日，全国几何量长度计量技术委员会发布了《线纹测量装置校准规范》征求意见稿，并面向全国的并面向全
9月8日，全国几何量长度计量技术委员会发布了《线纹测量装置校准规范》征求意见稿，并面向全国的并面向全国的计量技术机构、科研院所以及相关的行业企业征求意见。
一维线纹测量装置一般由测长系统、瞄准系统、工作台及驱动系统、照明系统、温度测量系统及数据处理系统等部分组成。测长系统以激光干涉仪或是光栅尺作为测长基准；瞄准系统通常采用光电显微镜、读数显微镜或影像测头等，依据瞄准读数时的状态可分为动态瞄准测量和静态瞄准测量。
检测二等及以上高精度线纹尺的线纹测量装置称为激光干涉比长仪，其以激光干涉仪作为测长基准、光电显微镜动态瞄准，测量范围一般0-2000mm，不确定度一般优于U99=0.1μm+10-7L。
其他等级的线纹测量装置以激光干涉仪或光栅尺作为测长基准、利用影像测头或读数显微镜进行静态瞄准读数，测量范围可长至几米，示值误差一般在几微米至十几微米以上。
该准规范的起草单位有中国计量科学研究院、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所。
该规范代替JJG331-1994《激光干涉比长仪》为首次发布；该规范依据JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编写；该规范相对于JJG331-1994《激光干涉比长仪》，增加了适用范围，适用于以激光干涉仪或光栅尺作为测长标准的线纹测量装置的校准、验收。
该校准规范的编写引用以下条件JJF 1001-2011 通用计量术语及定义；JJF 1059.1-2012 测量不确定度评定与表示；JJF 1094-2002 测量仪器特性评定；JJG 73-2005 高等别线纹尺；OIML R98 1991 高精度线纹尺(High-precision line measures of length)。
本校准规范适用于对高精度线纹尺进行直接测量的一维线纹测量装置的校准，验收检测可参照执行。高精度线纹尺指，单值或多值的、金属或玻璃制的刚性的一维线纹尺。更多详情请见附件。
编辑点评
该规范代替JJG331-1994《激光干涉比长仪》，增加了适用范围，适用于以激光干涉仪或光栅尺作为测长标准的线纹测量装置的校准、验收。该校准规范实施将为测量提供更加具体的技术标准和测量要求，从而保障相关测量工作顺利开展。
(原标题：《线纹测量装置校准规范》征求意见稿发布) （来源：中国仪表网）
9月8日，全国几何量长度计量技术委员会发布了《线纹测量装置校准规范》征求意见稿，并面向全国的并面向全国的计量技术机构、科研院所以及相关的行业企业征求意见。
一维线纹测量装置一般由测长系统、瞄准系统、工作台及驱动系统、照明系统、温度测量系统及数据处理系统等部分组成。测长系统以激光干涉仪或是光栅尺作为测长基准；瞄准系统通常采用光电显微镜、读数显微镜或影像测头等，依据瞄准读数时的状态可分为动态瞄准测量和静态瞄准测量。
检测二等及以上高精度线纹尺的线纹测量装置称为激光干涉比长仪，其以激光干涉仪作为测长基准、光电显微镜动态瞄准，测量范围一般0-2000mm，不确定度一般优于U99=0.1μm+10-7L。
其他等级的线纹测量装置以激光干涉仪或光栅尺作为测长基准、利用影像测头或读数显微镜进行静态瞄准读数，测量范围可长至几米，示值误差一般在几微米至十几微米以上。
该准规范的起草单位有中国计量科学研究院、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所。
该规范代替JJG331-1994《激光干涉比长仪》为首次发布；该规范依据JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编写；该规范相对于JJG331-1994《激光干涉比长仪》，增加了适用范围，适用于以激光干涉仪或光栅尺作为测长标准的线纹测量装置的校准、验收。
该校准规范的编写引用以下条件JJF 1001-2011 通用计量术语及定义；JJF 1059.1-2012 测量不确定度评定与表示；JJF 1094-2002 测量仪器特性评定；JJG 73-2005 高等别线纹尺；OIML R98 1991 高精度线纹尺(High-precision line measures of length)。
本校准规范适用于对高精度线纹尺进行直接测量的一维线纹测量装置的校准，验收检测可参照执行。高精度线纹尺指，单值或多值的、金属或玻璃制的刚性的一维线纹尺。更多详情请见附件。
编辑点评
该规范代替JJG331-1994《激光干涉比长仪》，增加了适用范围，适用于以激光干涉仪或光栅尺作为测长标准的线纹测量装置的校准、验收。该校准规范实施将为测量提供更加具体的技术标准和测量要求，从而保障相关测量工作顺利开展。
(原标题：《线纹测量装置校准规范》征求意见稿发布) （来源：中国仪表网）
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