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通过二维测量,可一次捕获目标物的全部信息。本产品可测量CMOS 上成像的二维影像,因此可进行只有在二维条件下才能进行的任意多点测量或校正倾斜后测量。
2D光学测量系统提供同步多点测量
采用一维透射式扫描进行测量,必须考虑装置的位移精度,因而无法实现高精度测量。
TM系列采用二维透射式进行测量,无需扫描。只需将工件置于测量范围内便可实现多点外径测量,既提高了精度,又缩短了工时。
需先将试样从试验机中取出后再用游标卡尺测量,因此测试需要花费大量时间。
若使用TM系列测量,则可以在给试样施力的同时确认其变形程度,测试时无需将试样从试验机中取出。另外,可在测试进行期间不断追加其他条件,既准确又省时。
若测量时所用摄像机及照明设备与测量机器相撞,则需要花费大量时间进行调节。
TM系列运用了透射原理,且测量范围大,调节不费时间,缩短了装置操作工时。
测量时使用两个透射传感器分别感测辊轴和薄膜,因此需要花费时间去设置和调节设备。
若使用TM系列测量,仅需一个传感头即可同时感测辊轴和薄膜,不产生设置误差,同时避免了因振动引起的震颤。在品质和保养上均有改善。
传统透射式进行多点测量时,除需考虑测量点数×转动时间外,还要算入移至测量点的移动时间。
若使用TM系列,仅需从二维数据中选定测量点,即可实现测量。多点偏移测量完全同步且一次完成,大大缩短作业时间。
传统的激光扫描方式
TM-3000 系列
传统的激光扫描方式
TM-3000 系列
传统的激光扫描方式
TM-3000 系列
传统的激光扫描方式
TM-3000 系列
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TM-3000 系列