Jm-5700半自动联排测试系统

Jm-5700半自动联排测试系统

1.精确、高效：Jm-5700半自动联排测试系统运用目前国际上最先进的电子技术及微功耗芯片，针对小信号进行了精密而又独特的全方位技术处理，光谱分析仪采用了先进的高速工业级DSP、FPGA及高速低噪声数模转换器件；使测试速度控制在ms量级，充分保证了测试系统的精确、高效。

2.快速、稳定：上料后系统自动进给，循环测试减少了测试时间，减少了人工的不确定因素，保证了测试结果的准确性，能够大幅提高企业的生产效率。

3.方便、快捷：采用VC++开发软件，实现人机交互界面，操作更捷简；软件自带数据库，并能够自动生成数据报表和统计报表（并支持PDF和EXCEL文档转换）、浏览打印、保存等功能，所有测试结果更直观，测试条件并符合CIE相关标准。

5.一  致  性：用户可根据需求设置参数，支持在线增减荧光粉来控制颜色一致性。

6.高 性价 比：颇佳的性能，极具竞争力的价格可以在保证质量的同时大幅度降低客户的生产成本。

7.适 用范 围:支持未切片成品和半成品测试及分选；

8. 测试参数结果多样化：

·  分选参数：正向电压V_F，反向漏电流I_R、色品坐标(x，y)/(u，v），相关色温CCT，峰值波长λ_p，光谱半宽度△λ，主波长λ_d，色纯度P_C，显色指数R_a等参数测试。

·  测试流水表：可选择需要测试的参数，并将测试结果显示在流水表中。

·  关键参数突显：使用鲜艳的颜色将不合格参数突显，直观，有利于提高效率。

·  箱号提示：将每颗结果使用大号字体突显分箱号，提高了分选速度，理论可达3.6k/h。。

·  测试报表：将测试结果导入数据库，并有选择的打印输出。

·  提供组合卡测功能，满足多种特色需求；

采购导向：

本产品主要针对大功率未切片LED进行分选以及对未封装芯片进行增补粉，适宜于封装产家生产车间，效率高，结果准确可靠，还可以用于LED应用厂家的抽样检测，结果准确可靠。

基本参数：

光通量       0.1-180 000mlm (0.2m积分球)         

波长范围     380-780nm                     

显色指数     0-100                          

色品坐标     (x，y)/(u，v）                    

色温         1500-25000K                   

正向电压     0.01-9V ;0.01-24V                         

反向电压     0.01-20V                        

反向漏电流   0-220uA