J200 LA-fs飞秒激光进样及光谱分析系统

LA-ICP-MS 的量子级飞跃

J200 LA-fs飞秒激光进样及光谱分析系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下，均匀剥蚀样品成透明状，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是采用长脉冲激光技术无法达到的。

减少样品的依赖性，比雾化技术精度高

J200 LA-fs飞秒激光进样及光谱分析系统剥蚀样品精度高，且没有热效应。而采用长激光脉冲的系统，会发生的多种热过程，改变剥蚀样品的数量和化学成分，如改变热特性等；并且无论采用什么波长，如266nm, 213nm 或193nm, 为了准确定量的分析元素和同位素，需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质。

J200LA-fs剥蚀均匀一致，剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。

均匀一致的粒径确保高精度、高灵敏度测量

长激光脉冲系统产生的样品颗粒大（常大于数微米），驻留在输送管中，导致运输效率低，并且降低了分析的灵敏度。大样品颗粒还会在ICP-MS的瞬时信号中产生峰值，导致测量精度降低。J100系统产生的样品颗粒均匀一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，运输效率高。这些到达ICP源的颗粒能完全被消解，产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可完全依靠J100系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统。

元素和同位素的分馏最少

在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程：（1）非化学计量物质剥蚀的热过程；（2）大样品颗粒在ICP源不完全消解。J100施加高能激光的时间比长脉冲系统短，最短达1/10000。J200LA-fs系统通过非热过程，施加超高激光辐射剥蚀样品，产生的颗粒能在ICP源完全消解，确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号。

高精度元素和同位素测量的保障

ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，也是世界首个在LA-ICP-MS系统中采用飞秒激光脉冲，并实现其卓越性能的公司。J200LA-fs系统能完成最具挑战性的化学分析工作。来自ASI公司严谨的科研和技术支持是其它技术无法达到的。使用ASI公司的产品，意味着能直接和世界顶级的研究团队交流，并得到专业的技术支持。

强大的软件与ICP-MS仪器协同操作

J200LA-fs系统软件功能直观、带图形界面，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式。采用双向通信控制，协同操作ICP-MS仪器达到了史无前例的水平。软件让用户通过基本单元“处方”来制定各个硬件工作的时间序列命令集，并通过串联多个“处方”，让系统自动完成各个测量工作。

硬件控制简单、方便

软件使J200LA-fs用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态，不同用户组可赋予不同的使用权限。

获取勾边样品图像，制定复杂的激光采样模式

软件提供大的视频窗口，显示勾边的、详细的样品图像。用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式。即使是形状怪异的结构，模式工具也可选定，并分析其元素或同位素。

双照相系统扫描样品

J200LA-fs 的两个相机提供广角和放大的样品图像。允许用户先获取样品的广角图像，然后在图像上扫视不同的位置，高倍放大选定点。

智能气流控制，最大限度地获取ICP-MS等离子体的稳定性和分析性能

软件具备智能输送和补充气控制功能，使每种气体按预定的方式达到设定值，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止突然冒火焰。预设阀配置可选择氩气或氦气作为输送气或补充气。

“处方”功能让系统自动运行

用户可将多个硬件部件运行命令集合，并按时间顺序排列，形成“处方”。制定完成的处方，以后也可以调用。多个处方可编制成组，自动顺序执行，使测量工作高度自动化。可简单采用“recall”命令调用“处方”，重复实验，也可复制部分“处方”，结合新的命令，完成新的采样过程。