首页 » 通用检测仪器 » X射线仪器 » XRF(波长色散型X荧光光谱仪)
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特点之一, 雄厚的技术背景
特点之二, 卓越的分辨率( 与能量色散仪器比较)
特点之三, 卓越的分辨率(与高档昂贵进口的波长色散仪器比较)
特点之四, 操作简便、维护成本低,仪器轻便
特点之五, 无标样分析软件FPM
特点之六, 能分析粉末和水溶液
特点之七, 卓越的技术指标
特点之八,中国成功应用案例
石油中测硫方法和配套仪器
ASTM D 2622-98, ASTM D 7039-04 波长色散型X射线荧光谱法 (WDX) 3ppm< SPECTROSCAN
MAKC-GV
ISO 20847-2004 能量色散型X射线荧光谱法 (EDX) 30ppm< SPECTROSCAN-S
SPECTROSCAN MAKC-GV型波长色散X射线光谱仪测硫主要特点
实际定量检测下线为3ppm,很轻松的满足最严格的波长色散的标准ASTM D 2622-98
例:10ppm 标样,平行测量20次,标准偏差为0.68ppm, 两次平行测量最大相差为1.6ppm,ASTM D 2622-98在10ppm含量时要求5ppm
SPECTROSCAN MAKC-GF2E (G型光谱仪价格实惠,但是仅检测从 20Ca 到 92U 元素.为了满足钱少的客户在G型仪器基础上加了两个能量色散通道,用户可 以任选两中轻元素,仅限于下列元素:Mg, Al, Si, P, S, Cl, K。
一般选用S 和 Cl或者 S和P. 计量特性见下表:
X-射线荧光光谱仪的研制和基本参数法的理论研究工作开始于70-年代末80-年代初
该工作由俄罗斯著名的大学和国家研究所进行。但是主要创始人被认为是克利门特•阿尼索维奇博士。
经过多年的艰苦的探索,克利门特•阿尼索维奇博士发明了高效X-射线光学系统并获得了相应的专利。该系统技术参数在很大的程度上超过当今的X-射线光学系统。因此历史首次使用低功率X-射线管,不用真空的小型X-射线荧光光谱仪在分析性能上能代替大型昂贵的仪器。
10年多来,产品在不断的更新。配套软件不断地更新。
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